四探针应用|测试ITO薄膜方阻

发布网友发布时间：2024-10-23 15:19

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热心网友时间：2024-11-02 05:50

在现代液晶显示器中，透明导电玻璃作为关键材料发挥着重要作用。尤其是ITO薄膜，它是利用掺杂Sn的In2O3制成的N型氧化物半导体，因其高透过率和优良导电性能而备受青睐。ITO薄膜的主要性能指标包括电阻率和光透过率，通常电阻率在10^-5至10^-4欧姆·厘米之间，透光率可达90%以上。通过调整In2O3与Sn2O的比例，可以控制这两者的平衡，以优化性能。

在实际应用中，高档STN液晶显示屏使用的ITO玻璃其方阻约为10欧姆/平方厘米，膜厚在100-200微米，而低档TN产品则相应较高，方阻在100-300欧姆/平方厘米，膜厚更薄。为了精确评估ITO薄膜的导电性能，四探针电阻测试仪是一种常用工具。测试时，仪器会将测试区域分成九等份，逐个测量并计算平均值和分散值，以确定样品是否达到标准。

市面上的四探针电阻测试仪分为全自动和半自动两种。全自动设备能自动扫描并实时输出方阻、电阻率等数据，适合大规模、高效率的检测需求，而半自动设备则以性价比著称。无论是哪种类型，四探针测试都是保证ITO薄膜性能的关键步骤。

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