搜索
您的当前位置:首页一种测试DDR3数据有效窗口的方法和装置

一种测试DDR3数据有效窗口的方法和装置

时间:2020-09-10 来源:乌哈旅游
(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(21)申请号 CN201110384060.4 (22)申请日 2011.11.28

(71)申请人 曙光信息产业(北京)有限公司

地址 100084 北京市海淀区水磨西街64号

(10)申请公布号 CN102426861A

(43)申请公布日 2012.04.25

(72)发明人 李静;张英文;纪奎;张磊;白宗元;窦晓光;李旭;刘朝辉 (74)专利代理机构 北京安博达知识产权代理有限公司

代理人 徐国文

(51)Int.CI

G11C29/56;

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

一种测试DDR3数据有效窗口的方法和装置

(57)摘要

本发明提供了一种测试DDR3数据有效窗

口的方法,先计算出DDR3的数据有效窗口大小,再根据窗口大小设置读数据采样时钟的相位。本发明提供的测试DDR3数据有效窗口的方法,可在对DDR3内存的硬件设计之后,通过所述测试DDR3数据有效窗口的方法和装置测试出数据有效窗口大小,然后在对DDR3控制器设计中直接根据测试得到的窗口大小设置读时钟采样点位置,提

高了硬件设计的效率,降低了PCB的布局布线难度。

法律状态

法律状态公告日

2012-04-25 2012-06-06 2014-05-21

法律状态信息

公开

实质审查的生效 授权

法律状态

公开

实质审查的生效 授权

权利要求说明书

一种测试DDR3数据有效窗口的方法和装置的权利要求说明书内容是....请下载后查看

说明书

一种测试DDR3数据有效窗口的方法和装置的说明书内容是....请下载后查看

因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容

Top