专利名称：半导体装置以及电力变换装置专利类型：发明专利
发明人：伊藤悠策,中松佑介,富泽淳申请号：CN201880087286.8申请日：20181203公开号：CN111630401A公开日：20200904
摘要：提供使用键合导线的电感分量提高劣化探测精度的半导体装置。该提高劣化探测精度的半导体装置具备：第1导体图案(5)，形成于绝缘基板(1)上，流过半导体元件(6)的主电流；第2导体图案(3)，形成于绝缘基板(1)上，用于检测半导体元件(6)表面电极(8)的电位；第1键合导线(9)，连接表面电极(8)和第1导体图案(5)；第2键合导线(10)，连接表面电极(8)和第2导体图案(3)；电压检测部(12)，与第1导体图案(5)及第2导体图案(3)连接，检测半导体元件(6)的开关时的第1导体图案(5)与第2导体图案(3)之间的电压差；以及劣化探测部(13)，使用检测到的电压差，探测第1键合导线(9)的劣化。
申请人：三菱电机株式会社
地址：日本东京
国籍：JP
代理机构：中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人：金春实
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